A.路徑測(cè)試
B.等價(jià)類
C.因果圖
D.歸納測(cè)試
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.setUp（）
B.set（）
C.setap（）
D.setDown（）
A.自中向下增量測(cè)試方法
B.自底向上增量測(cè)試方法
C.多次性測(cè)試
D.維護(hù)
A.條件覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.判定覆蓋
A.條件覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.判定覆蓋
A.private void testXXX（）
B.public void testXXX（）
C.public float testXXX（）
D.public int testXXX（）
最新試題
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
下面對(duì)于開發(fā)過(guò)程描述正確的是（）
軟件開發(fā)模型中，適用于需求不明，設(shè)計(jì)方案有一定風(fēng)險(xiǎn)的模型是（）
單元測(cè)試一般由專門的測(cè)試人員和開發(fā)人員一起進(jìn)行。
下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中，哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤，但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤？（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
測(cè)試進(jìn)度管理以進(jìn)度為首要目標(biāo)，需把握好進(jìn)度與質(zhì)量、成本之間的關(guān)系。
以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）
使用QTP軟件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，下面對(duì)其中應(yīng)用描述錯(cuò)誤的是（）
（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。