CMOS的字母C的英文單詞是（）。

半導(dǎo)體激光器在激光外徑掃描儀中起到提供光源的作用。

軸向測距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。

對于相干檢測方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號檢測的對比度和增大交變分量的幅值。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號檢測電路頻率特性時(shí)，應(yīng)包括下列（）基本內(nèi)容。

在光電檢測技術(shù)中，對交變光信號的動態(tài)響應(yīng)通常采用時(shí)域法處理。

以下效應(yīng)可用于普朗克常量測量的是（）。

成像測量法存在的問題，是當(dāng)物體沿景深方向移動時(shí)，會造成放大倍率的變化，這會（）測量精度。因此，需要解決自動調(diào)焦的問題。

下列哪些儀器可以用于波帶板激光準(zhǔn)直應(yīng)用？（）

以下不屬于光纖干涉儀的有（）。