一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。