石墨管式原子化器的檢測(cè)限比火焰原子化器高，注入的試樣幾乎可全部原子化，基態(tài)原子在光路中停留的時(shí)間短。

色譜流出曲線圖中的標(biāo)準(zhǔn)差是指正態(tài)色譜峰上兩拐點(diǎn)間距離的一半，其大小反映組分流出色譜柱的離散程度，標(biāo)準(zhǔn)差越大，色譜峰越寬。

在AAS測(cè)試中，火焰原子化時(shí)，通常通過(guò)調(diào)節(jié)燃燒器高度來(lái)控制光束通過(guò)火焰的電離、化合區(qū)域。

硬電離離子化能量低，試樣被電離后主要以分子離子為主，提供精確的相對(duì)分子質(zhì)量信息。

分子內(nèi)各種官能團(tuán)的特征吸收峰只出現(xiàn)在紅外光波譜的一定范圍。

在AAS測(cè)試中的化學(xué)干擾可通過(guò)化學(xué)分離，使用高溫火焰，加入釋放劑和保護(hù)劑，加入緩沖劑或基體改進(jìn)劑等方法來(lái)克服。

內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí)，內(nèi)標(biāo)物的色譜峰必須與各個(gè)組分的色譜峰完全分離。

離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對(duì)應(yīng)的離子活度范圍稱為離子選擇性電極的線性范圍。

在AAS測(cè)試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。

消除AAS測(cè)試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度，加入消電離劑（主要為堿金屬元素）等來(lái)抑制待測(cè)原子的電離。