在測(cè)試程序設(shè)計(jì)完成后，要進(jìn)行程序優(yōu)化，主要是完成（）。

目前大多數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)采用的，通過總線連接外接儀器的測(cè)試系統(tǒng)形式是（）型。

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)中，單路輸出結(jié)構(gòu)應(yīng)包括（）、（）和（）這幾個(gè)部分，最后信號(hào)送到儀表或執(zhí)行機(jī)構(gòu)。

應(yīng)變片的核心部分是（）。

能夠反應(yīng)驅(qū)動(dòng)外設(shè)能力的指標(biāo)是總線的（）。

電容近炸引信是利用引信電極遇到目標(biāo)時(shí)，產(chǎn)生的電容變化的信息控制引信起爆的一種引信，采用的是（）型電容式傳感器。

LabVIEW的（）模板主要提供各種用于創(chuàng)建、修改和調(diào)試VI程序的工具。

一個(gè)測(cè)控總線為16位，它描述的是該總線的（）。

電容式傳感器采用差動(dòng)式的結(jié)構(gòu)主要優(yōu)點(diǎn)不包括（）

系統(tǒng)備選測(cè)試集中可能存在冗余測(cè)試，需要選擇最優(yōu)的測(cè)試組合，這種過程稱為（）。