A.位置;積分;微分
B.位移;微分;積分
C.速度;微分;積分
D.速度;積分;微分
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A.因?yàn)檗D(zhuǎn)速低時(shí)磁電傳感器產(chǎn)生的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)高
B.因?yàn)檗D(zhuǎn)速低時(shí)磁電傳感器產(chǎn)生的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)低
C.因?yàn)檗D(zhuǎn)速低時(shí)磁電傳感器不工作
D.因?yàn)檗D(zhuǎn)速低時(shí)容易損壞磁電傳感器
A.改變線(xiàn)圈中的電流
B.線(xiàn)圈與磁鐵相對(duì)運(yùn)動(dòng)
C.磁路中磁阻的變化
D.恒定磁場(chǎng)中線(xiàn)圈面積變化
A.電渦流
B.差動(dòng)變壓器
C.變面積式電容傳感器
D.壓電傳感器
A.其感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)隨著滑尺相對(duì)定尺移動(dòng)而周期性變化。
B.可以通過(guò)測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的幅值或相位實(shí)現(xiàn)位移測(cè)量。
C.調(diào)理電路包括鑒幅型電路和鑒相型電路。
D.滑尺上兩個(gè)激勵(lì)信號(hào)同相位。
A.大尺和小尺
B.定尺和滑尺
C.長(zhǎng)尺和短尺
D.寬尺和窄尺
最新試題
軟件設(shè)計(jì)可采用三層遞進(jìn)式結(jié)構(gòu)。最底層叫做(),負(fù)責(zé)與儀器、被測(cè)試設(shè)備以及其他應(yīng)用程序之間的通信。
一個(gè)測(cè)控總線(xiàn)為16位,它描述的是該總線(xiàn)的()。
下列虛擬儀器開(kāi)發(fā)軟件中采用圖形化編程語(yǔ)言的是()。
GPIB總線(xiàn)的信號(hào)線(xiàn)有16根,分為三組,分別為()。
要提高光敏電阻靈敏度,可采用()的方法。
PXI總線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了其物理尺寸有()
系統(tǒng)備選測(cè)試集中可能存在冗余測(cè)試,需要選擇最優(yōu)的測(cè)試組合,這種過(guò)程稱(chēng)為()。
IEEE488總線(xiàn)也稱(chēng)為()總線(xiàn)。
相比較而言,()的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試精度更高。
VXI總線(xiàn)具有()。