A.除薄層耦合劑外不再有其他介質(zhì)的情形
B.用一定厚度的液體作為耦合劑的檢測(cè)方法
C.直接接觸的檢測(cè)方法
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A.K式檢測(cè)
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)
A.單探頭法
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)
A.與探測(cè)面成某一角度的缺陷
B.與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體狀缺陷
C.與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷
D.與探測(cè)面垂直的橫向缺陷
A.表面波法
B.縱波法
C.導(dǎo)波法
D.橫波法
A.內(nèi)部缺陷
B.表面缺陷
C.近表面缺陷
D.內(nèi)部和表面缺陷
最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
單探頭法容易檢出（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。