軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）

從一般意義看，測(cè)試結(jié)束的標(biāo)準(zhǔn)定義錯(cuò)誤的是（）

敏捷開(kāi)發(fā)模型不適用于大型開(kāi)發(fā)項(xiàng)目。

強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問(wèn)題。說(shuō)的是以下哪一種評(píng)審方法？（）

測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。

軟件測(cè)試的重要性不包括下面哪一個(gè)？（）

在（）中，只需要考慮所有可能的執(zhí)行路徑，對(duì)于不可能執(zhí)行的路徑，是不需要考慮的。

測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容？（）

在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。

下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是（）