單項選擇題半電波暗室場地衰減檢測依據(jù)的國家標準為()

A.GB/T17626.3
B.GB12190
C.GB9254


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項選擇題電波暗室場均勻性檢測依據(jù)的國家標準為()

A.GB/T17626.3
B.GB12190
C.GB9254

2.單項選擇題1.7GHz-12.4GHz頻段用()天線測量屏蔽室的電場屏蔽效能。

A.環(huán)
B.偶極子
C.喇叭
D.桿

3.單項選擇題300MHz~1000MHz頻段用()天線測量屏蔽室的電場屏蔽效能。

A.環(huán)
B.偶極子
C.喇叭
D.桿

4.單項選擇題100Hz~20MHz頻段用()天線測量屏蔽室磁場的屏蔽效能。

A.環(huán)
B.偶極子
C.喇叭
D.桿

5.單項選擇題場地衰減測試時接收天線的掃描高度為()

A.1m-2m
B.1m-3m
C.1m-4m
D.1.5m-4m