已知一元件壽命服從指數(shù)分布，平均壽命θ為100h，則其工作1小時可靠性是其工作100小時可靠性的多少倍（）
A.A
B.B
C.C
D.D
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下列失效率函數(shù)曲線中，屬于早期失效型的曲線為（）
A.A
B.B
C.C
D.D
A.可靠性實驗是實驗室的實驗
B.環(huán)境應力篩選試驗不能提高產(chǎn)品固有可靠性，但通過改進設計和工藝等可以提高產(chǎn)品的可靠性水平
C.可靠性增長試驗是通過發(fā)現(xiàn)故障、分析和糾正故障以及對糾正措施的有效性而進行驗證以提高產(chǎn)品可靠性水平的過程
D.可靠性測定試驗的目的是通過試驗測定產(chǎn)品的可靠性水平
A.40小時
B.133小時
C.150小時
D.100小時
最新試題
一個機械電子系統(tǒng)包括一部雷達，一臺計算機，一個輔助設備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時，200小時和100小時，則系統(tǒng)的MTBF為（）
為了驗證開發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致，用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗叫（）試驗。
下列失效率函數(shù)曲線中，屬于早期失效型的曲線為（）
下列關于可維護性的陳述當中哪一個是真實的（）
應力分析法適用于電子產(chǎn)品設計開發(fā)的（）
用上行法和下行法求最小割集時，可能得到不同的最小割集。
下圖為典型產(chǎn)品的故障率曲線，試說明各階段的產(chǎn)品失效原因。
設有一可修復的電子產(chǎn)品工作10000h，累計發(fā)生4次故障，則該產(chǎn)品的MTBF約為（）
簡要說明老練與篩選的目的以及二者的異同。
可靠性試驗可以分為工程試驗和（）