A.對缺陷回波位于定量線及定量線以上超標(biāo)缺陷判斷其缺陷類型和性質(zhì)
B.對線狀缺陷的自身高度用AVG 方法測量
C.測量缺陷高度方向尺寸時(shí)，無法確定端點(diǎn)衍射波和端部最大回波時(shí)，用6dB 法測高度
D.應(yīng)判定本次檢測的缺陷是否是新產(chǎn)生的或是否有擴(kuò)展。
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A.反射波位于II 區(qū)的缺陷用6dB 法測量其指示長度（反射波只有一個(gè)高點(diǎn)）或端點(diǎn)6dB 法測其指示長度（反射波又多個(gè)高點(diǎn)）
B.反射波位于I 區(qū)的缺陷用絕對靈敏度法測量其指示長度
C.采用2.5MHz K2斜探頭
D.對板厚為8~40mm 的對接焊縫，反射波高位于II 區(qū)的缺陷，允許的指示長度為10mm 或5mm
A.對位于I，II，III 區(qū)的缺陷回波均應(yīng)判斷是否具有裂紋等危害性特征，如不能判斷，應(yīng)增加其它方法綜合評(píng)定。
B.用6dB 法測量缺陷指示長度。
C.允許存在未檢測區(qū)域。
D.對較薄板厚對接焊縫可采用一次反射波檢測。
A.聲程距離較大時(shí)，可能將動(dòng)態(tài)波形I 判為動(dòng)態(tài)波形II
B.探測面為曲面時(shí)，點(diǎn)狀缺陷回波可能顯示動(dòng)態(tài)波形II
C.體積狀缺陷也可能顯示動(dòng)態(tài)波形II
D.線性缺陷也可能顯示動(dòng)態(tài)波形II
A.按照附錄F 的規(guī)定測定聲能傳輸損耗差。
B.對缺陷進(jìn)行定量檢測時(shí)，以掃查靈敏度測定。
C.用絕對靈敏度法測量缺陷指示長度。
D.指示長度小于10mm 的缺陷按5mm 計(jì)。
A.直探頭檢測波高為φ2mm+5dB 評(píng)為II 級(jí)，
B.斜探頭檢測波高為φ1×6-6dB 評(píng)為II 級(jí)，
C.直探頭檢測波高為φ2mm+8dB 評(píng)為I 級(jí)，
D.斜探頭檢測波高為φ1×6-2dB 評(píng)為II 級(jí)，
最新試題
用水浸法縱波檢測80mm 厚鋼試件，水層厚度應(yīng)為（）。
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，采用6dB 法測定缺陷自身高度是利用（）。
斜探頭作圓周方向探測時(shí)，為了實(shí)現(xiàn)良好的聲耦合，常將探頭修磨成與圓周曲率半徑相同的曲面，經(jīng)修磨后，斜探頭的K 值將變大。
現(xiàn)有甲、乙兩臺(tái)超聲波探傷儀，某一探頭與甲組合靈敏度余量為52dB，與乙組合后的靈敏度余量為48dB，則甲探傷儀與該探頭組合靈敏度比乙探傷儀與該探頭組合靈敏度高。
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，關(guān)于掃查靈敏度的敘述正確的是（）。
圓盤形聲源的未擴(kuò)散區(qū)內(nèi)聲壓變化規(guī)律為（）。
對奧氏體不銹鋼焊縫探傷，常用單晶縱波斜探頭探測深度較大的缺陷，用雙晶縱波斜探頭探測深度較淺的缺陷。
聚焦探頭的焦點(diǎn)是一個(gè)聚焦區(qū)，焦柱長度與焦柱直徑之比為常數(shù)，等于焦距與聲源直徑之比的4倍。
當(dāng)缺陷聲程X=N/2（N 為探頭晶片近場長度）時(shí)，由于此時(shí)主聲束處聲壓為零，故無法檢測。
缺陷指示長度與哪些因素有關(guān)？