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從一般意義看,測(cè)試結(jié)束的標(biāo)準(zhǔn)定義錯(cuò)誤的是()
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中,用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng),其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是()
下列測(cè)試方法中,對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是()
軟件測(cè)試應(yīng)該盡早執(zhí)行,自動(dòng)化測(cè)試也最好在項(xiàng)目初期就開(kāi)始自動(dòng)化測(cè)試。
測(cè)試進(jìn)度管理以進(jìn)度為首要目標(biāo),需把握好進(jìn)度與質(zhì)量、成本之間的關(guān)系。
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn),常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中,哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤,但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤?()
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在:基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性,某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn);所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例,保障滿足一定的覆蓋率。
單元測(cè)試一般由專(zhuān)門(mén)的測(cè)試人員和開(kāi)發(fā)人員一起進(jìn)行。