下列失效率函數(shù)曲線中，屬于早期失效型的曲線為（）

用上行法和下行法求最小割集時(shí)，可能得到不同的最小割集。

什么是可靠性，可靠性的最主要的指標(biāo)有哪些？

為了驗(yàn)證開發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致，用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗(yàn)叫（）試驗(yàn)。

產(chǎn)品可靠性與（）無關(guān)。

應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)的（）

已知某系統(tǒng)故障的故障樹如下圖所示，其元件MTBF均為2000小時(shí)，服從指數(shù)分布。1）求出最小割集；2）預(yù)計(jì)該系統(tǒng)工作100小時(shí)的可靠度。

四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。

在嚴(yán)重度矩陣中以（）作為橫坐標(biāo)，以（）為縱坐標(biāo)。

系統(tǒng)可靠性框圖如下所示：要求：1）畫出相應(yīng)的故障樹，寫出最小割集表達(dá)式；2）計(jì)算各底事件的結(jié)構(gòu)重要度并給出分析結(jié)論。