對(duì)氟離子選擇性電極造成干擾的離子是（）
A.A
B.B
C.C
D.D
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A.電極對(duì)主測(cè)離子的選擇性越好
B.電極對(duì)主測(cè)離子的選擇性越低
C.電極對(duì)干擾離子的選擇性越好
D.電極對(duì)干擾離子的響應(yīng)能力越好
A.避免存儲(chǔ)效應(yīng)（遲滯效應(yīng)或記憶效應(yīng)）；
B.消除電位不穩(wěn)定性；
C.清洗電極；
D.提高靈敏度。
A.被測(cè)離子與共存離子的遷移速度；
B.被測(cè)離子與共存離子的電荷數(shù)；
C.共存離子在電極上參與響應(yīng)的敏感程度；
D.共存離子與晶體膜中的晶格離子形成微溶性鹽的溶解度或絡(luò)合物的穩(wěn)定性。
A.成正比
B.符合擴(kuò)散電流公式的關(guān)系
C.的對(duì)數(shù)成正比
D.符合能斯特公式的關(guān)系
A.控制溶液的離子強(qiáng)度
B.控制溶液的pH值
C.消除液接電位
D.掩蔽干擾離子
最新試題
在AAS測(cè)試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。
電噴霧電離源適用于強(qiáng)極性、不穩(wěn)定、難揮發(fā)、大分子量的樣品分析。
原子光譜不但反映原子或者離子的性質(zhì)，還能提供原子或離子來(lái)源的分子信息。
在AAS測(cè)試中，火焰原子化時(shí)，通常調(diào)節(jié)霧化器可以改變和控制進(jìn)樣速度。
采用外標(biāo)法檢測(cè)樣品時(shí)，對(duì)進(jìn)樣量的準(zhǔn)確性沒(méi)有要求，不適用于大批量試樣的快速分析。
在AAS測(cè)試中的化學(xué)干擾可通過(guò)化學(xué)分離，使用高溫火焰，加入釋放劑和保護(hù)劑，加入緩沖劑或基體改進(jìn)劑等方法來(lái)克服。
分子內(nèi)各種官能團(tuán)的特征吸收峰只出現(xiàn)在紅外光波譜的一定范圍。
不同基團(tuán)的某一種振動(dòng)形式可能會(huì)在同一頻率范圍內(nèi)都有紅外吸收。
場(chǎng)致變寬是指在外加場(chǎng)或者帶電粒子形成的場(chǎng)作用下，電子能級(jí)進(jìn)一步發(fā)生分裂而導(dǎo)致的變寬效應(yīng)，在原子吸收分析中，場(chǎng)變寬不是主要變寬。
硬電離離子化能量低，試樣被電離后主要以分子離子為主，提供精確的相對(duì)分子質(zhì)量信息。