A.阻塞
B.脈沖后沿下降時(shí)間
C.脈沖上升時(shí)間
D.以上都不對(duì)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.＞6分貝
B.＞1%
C.＜6分貝
D.≤1%
A.掃描電路
B.標(biāo)距電路
C.接收電路
D.同步電路
A.發(fā)射脈沖幅度減小
B.發(fā)射功率下降
C.檢測(cè)臨敏度降低
D.以上都對(duì)
A.脈沖長(zhǎng)度或脈沖寬度
B.脈沖振幅
C.脈沖形狀
D.以上都不是
A.脈沖距離
B.脈沖恢復(fù)時(shí)間
C.超聲波頻率
D.脈沖的重復(fù)頻率
最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。