問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】分析單元測(cè)試和代碼調(diào)試的區(qū)別。

答案： 表面上這兩項(xiàng)技術(shù)很相似，因?yàn)樗鼈兌及ú榭创a、運(yùn)行程序和處理軟件缺陷的過(guò)程，但是它們的目標(biāo)不同：?jiǎn)卧獪y(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)軟件...
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【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述增量式集成測(cè)試的自頂向下和自底向上兩種測(cè)試方法。
答案： 自頂向下增量式測(cè)試的主要優(yōu)點(diǎn)在于它可以自然地做到逐步求精，一開(kāi)始便能讓測(cè)試者看到系統(tǒng)的框架。它的主要缺點(diǎn)是需要提供被調(diào)用...
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【簡(jiǎn)答題】什么是測(cè)試用例？為什么要設(shè)計(jì)測(cè)試用例？
答案： 所謂的測(cè)試用例就是將軟件測(cè)試的行為活動(dòng)，做一個(gè)科學(xué)化的組織歸納。
使用測(cè)試用例的好處主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：<...
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