某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線(xiàn)檢測(cè)的影響包括（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)（）

當(dāng)射線(xiàn)穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

通常所謂20KV的X射線(xiàn)是指（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）