一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于（）

對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括（）