A.重復(fù)頻率
B.晶片振動頻率
C.回波頻率
D.電源頻率
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A.能更準(zhǔn)確地測量缺陷高度
B.能更準(zhǔn)確地測量缺陷長度
C.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷上表面附近的缺陷
D.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷底面附近的缺陷
A.二次波檢測可以解決焊縫余高過寬影響探頭設(shè)置的困難
B.二次波檢測可以解決直通波盲區(qū)造成的近表面裂紋漏檢
C.二次波檢測以二次反射表面產(chǎn)生的波作為底面波
D.二次波檢測時探頭間距不能太大,以確保回波在底波波型轉(zhuǎn)換之前到達(dá)
A.采用的TOFD和脈沖反射法組合檢測
B.檢測筒體縱焊縫時從內(nèi)表面掃查
C.檢測筒體環(huán)焊縫時從內(nèi)表面掃查
D.從內(nèi)表面和外表面進(jìn)行兩次掃查
A.提高缺陷長度測量的精度
B.增大有效檢測范圍
C.消除底面焊縫成形不良的影響
D.有利于發(fā)現(xiàn)焊縫中的橫向缺陷
A.0.85mm
B.0.50mm
C.5.27mm
D.0.23mm
最新試題
不同材料的相對吸收系數(shù)()
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現(xiàn)()等信號波,需要仔細(xì)判別。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
通常所謂20KV的X射線是指()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()