一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關(guān)于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來，最主要的是決定于（）

發(fā)生康普頓散射的條件是（）