A.密度
B.彈性
C.a和b都是
D.聲阻抗
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A.施加電壓脈沖的長度
B.儀器的脈沖放大器的放大特性
C.壓電晶體的厚度
D.上述三種都不對
A.頻率或晶片直徑減小時(shí)增大
B.頻率或晶片直徑減小時(shí)減小
C.頻率增加而晶片直徑減小時(shí)增大
D.等于速度和頻率的乘積
A.用縱波垂直于界面發(fā)射到零件中去
B.用兩種不同振動頻率的晶片
C.用Y切割石英晶體
D.適當(dāng)?shù)膬A斜探頭
A.波長=聲速×頻率
B.波長=2(頻率×速度)
C.波長=速度÷頻帶
D.波長=頻率÷速度
A.楊氏模量
B.彈性模量
C.a和b都對
D.折射率
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。