單項(xiàng)選擇題鍛件中缺陷的取向通常為（）
A.雜亂
B.平行于晶粒流向
C.垂直線與晶粒流向之間
D.與晶粒流向成45º角
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1.單項(xiàng)選擇題開槽的超聲參考試塊可用于（）
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
2.單項(xiàng)選擇題在水浸檢驗(yàn)中，探頭與試件水距（）
A.應(yīng)盡可能減小
B.使二次界面波在底面回波之前
C.使二次界面波在底面回波之后
D.應(yīng)盡可能的大
3.單項(xiàng)選擇題超聲波從材料1進(jìn)入材料2；隨聲阻比Z/Z的增大而透過的聲壓（）
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
4.單項(xiàng)選擇題一個(gè)經(jīng)校正的超聲探測系統(tǒng)，從鋁試塊中深度為75mm，直徑為4mm平底孔上得到50mm的波高顯示，在檢驗(yàn)鋁鍛件時(shí)，表面狀態(tài)和材質(zhì)，都與試塊相同，若從深度為75mm處得到50mm波高顯示，則缺陷的面積可能是（）
A.與直徑4mm 的平底孔的面積相同
B.大于直徑4mm平底孔的面積
C.稍小于直徑4mm平底孔的面積
D.約為直徑4mm平底孔的面積
5.單項(xiàng)選擇題在A型掃描顯示中，電子束在陰極管射線管熒光屏上均勻重復(fù)移動(dòng)所形成的水平線 叫做（）
A.方波圖形
B.掃描線
C.標(biāo)志圖形
D.上述三種都不對
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
題型：單項(xiàng)選擇題