A.缺陷定位的準(zhǔn)確度
B.缺陷測(cè)長(zhǎng)的準(zhǔn)確度
C.缺陷測(cè)高的準(zhǔn)確度
D.缺陷定量的準(zhǔn)確度
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A.各種類型
B.具有平行底面
C.上下表面不平行
D.無底波
A.半波高度法
B.端點(diǎn)6dB法
C.端點(diǎn)峰值法
D.絕對(duì)靈敏度法
A.實(shí)際長(zhǎng)度
B.指示長(zhǎng)度
C.測(cè)量長(zhǎng)度
D.相對(duì)長(zhǎng)度
A.當(dāng)量法
B.測(cè)長(zhǎng)法
C.半波高度法
D.絕對(duì)靈敏度法
A.當(dāng)量
B.寬度
C.高度
D.長(zhǎng)度
最新試題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。