A.f大于近場(chǎng)長(zhǎng)度
B.f小于近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.f等于近場(chǎng)長(zhǎng)度
D.f任選
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A.C1〈C2
B.C1〉C2
C.Z1〉Z2
D.Z1〈Z2
A.垂直線于聲波的裂紋
B.任意取向的夾雜物
C.平行于表面的裂紋
D.一系列小缺陷
A.引起聲能擴(kuò)散
B.引起反射波束聚焦,焦點(diǎn)決定于缺陷的曲率
C.引起超聲波波長(zhǎng)改變
D.上述三種都不對(duì)
A.50mm的鋼
B.100mm的鋼
C.150mm的鋼
D.200mm的鋼
A.內(nèi)外表面
B.只在內(nèi)表面
C.只在外表面
D.從內(nèi)表面到壁厚1/2深度
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。