A.始波
B.界面回波
C.底面反射回波
D.缺陷反射回波
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A.選擇與待檢工件尺寸相同或相近的試塊
B.將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上的人工反射體，調(diào)節(jié)儀器使示波屏上人工缺陷的最高反射波達(dá)到基準(zhǔn)波高
C.計(jì)算出人工反射體與所要求的靈敏度之間的回波分貝差Δ（dB）
D.將儀器靈敏度增益Δ（dB），并根據(jù)工件和試塊的材質(zhì)給予一定補(bǔ)償
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測(cè)靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
A.顯示屏上雜波多
B.干擾對(duì)缺陷的定量
C.干擾缺陷波的判別
D.容易引起漏檢
A.定位
B.長(zhǎng)度測(cè)量
C.高度測(cè)量
D.定量
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測(cè)靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
最新試題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。