A.超聲波檢測(cè)
B.滲透檢測(cè)
C.目視檢測(cè)
D.磁粉檢測(cè)
E.渦流檢測(cè)
F.射線檢測(cè)
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A.實(shí)用AVG曲線
B.DGS曲線
C.距離波幅曲線
D.以上都是
A.零點(diǎn)的左邊
B.零點(diǎn)的右邊
C.零點(diǎn)
A.連續(xù)波顯示
B.A掃描顯示
C.B掃面顯示
D.C掃描顯示
A.放大器線性，分辨力，示波管平面尺寸
B.放大器線性，分辨力，阻塞時(shí)間
C.放大器線性，水平線性，分辨力
D.發(fā)射功率，耗電功率，外形尺寸與重量
A.脈沖寬度
B.脈沖振幅
C.脈沖形狀
D.上述三種都不對(duì)
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。