A.半波高度法
B.端點(diǎn)6dB法
C.端點(diǎn)峰值法
D.絕對(duì)靈敏度法
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A.實(shí)際長(zhǎng)度
B.指示長(zhǎng)度
C.測(cè)量長(zhǎng)度
D.相對(duì)長(zhǎng)度
A.當(dāng)量法
B.測(cè)長(zhǎng)法
C.半波高度法
D.絕對(duì)靈敏度法
A.當(dāng)量
B.寬度
C.高度
D.長(zhǎng)度
A.密度
B.聲阻抗
C.晶粒度
D.表面粗糙度
A.可不考慮檢測(cè)耦合差補(bǔ)償
B.適用于檢測(cè)的聲程小于等于3N
C.可不使用試塊
D.缺陷定量可采用計(jì)算法或AVG曲線法
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。