A.對(duì)接
B.角接
C.T型接頭
D.搭接
E.以上都是
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A.焊條電弧焊
B.鎢級(jí)氬弧焊
C.埋弧焊
D.氣體保護(hù)焊
E.以上都是
A.來自內(nèi)部缺陷的反射幅度下降
B.使聲束指向性變差
C.使前表面的回波寬度增大
D.以上都是
A.與試件熱處理相同的材料
B.與試件治金組織相似的材料
C.與試件相同厚度的材料
D.與試件材料規(guī)范，等級(jí)，熱處理相同的材料
A.在任何情況下都位于探頭中心正下方
B.位于探頭中心左下方
C.位于探頭中心右下方
D.未必位于探頭中心正下方
A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷；
C.存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D.以上都是
最新試題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
儀器水平線性影響（）。