A.6dB法
B.絕對靈敏度法
C.以上A或B
D.以上A和B
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A.平面型缺陷
B.非平面型缺陷
C.以上A或B
D.以上都不是
A.三級
B.四級
C.五級
D.以上都不是
A.JB/2Q6109-84
B.GB/T7233-87
C.JB4730-94
D.以上都是
A.缺陷回波幅度的等于或大于距離波幅曲線的位置
B.底面回?fù)芊冉档?2dB或12dB以上的位置
C.不論缺陷回波幅度的大小,凡出現(xiàn)線狀和片狀缺陷顯示的位置
D.以上都是
A.<15°
B.<20°
C.<25°
D.<30°
最新試題
單探頭法容易檢出()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。