A.缺陷越大,AVG曲線越適用 B.越接近探頭的區(qū)域,AVG曲線越準(zhǔn)確 C.從AVG曲線上確定的缺陷當(dāng)量與實(shí)際缺陷完全一致 D.在AVG曲線上,由于探頭附近的種種干擾,限制了這一距離內(nèi)的缺陷回波的辯認(rèn)或評(píng)定, 因而存在最小可測(cè)距離的限制
A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同 B.缺陷的方向有隨機(jī)性 C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同 D.上述原因全有
A.螢光屏上剛剛顯示出來 B.回波高度飽和 C.螢光屏滿高度的50%~80% D.以上全都可以