采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

為了提高探傷結(jié)果的可靠性，探傷前應對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進行調(diào)查。

當脫碳層或顯微組織初檢結(jié)果不合格時，應在（）兩支鋼軌上取樣復驗，如兩個復驗樣的復驗結(jié)果都符合要求，則該批其余的鋼軌可以驗收。

核對軌頭剝離層下的傷損一般采用（）。

在超聲波探傷中當工件聲衰減很小、試件的厚度較大時，如果重復頻率過高，儀器可能會產(chǎn)生（）

垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進行掃查，局部法掃查一般分為（）。

金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數(shù)一般為（）倍。

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

剝離層下核傷可采用軌顎法進行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。