A.10-20度
B.30-60度
C.30-90度
D.60-90度
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.5-15度
B.10-20度
C.15-20度
A.探頭與試件
B.探頭與耦合劑
C.試件與耦合劑
D.探頭與保護(hù)膜
A.工件容易形成腐蝕坑
B.當(dāng)溫度升高,聲波傳播速度下降,衰減增加
C.聲阻抗小、耦合效果不好
D.附著力、黏度、潤濕性不均勻
A.焊縫
B.陶瓷
C.鍛件
D.塑料或類似材料
A.靈敏度要高
B.分辨率好
C.垂直線性要好
D.水平線性誤差要小
最新試題
探傷中為了保證工件的整個(gè)被檢部位有足夠的聲束覆蓋,探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑,應(yīng)有探頭寬度()的重疊。
探頭移動(dòng)過程中同時(shí)作()轉(zhuǎn)動(dòng),稱為擺動(dòng)掃查。
當(dāng)脫碳層或顯微組織初檢結(jié)果不合格時(shí),應(yīng)在()兩支鋼軌上取樣復(fù)驗(yàn),如兩個(gè)復(fù)驗(yàn)樣的復(fù)驗(yàn)結(jié)果都符合要求,則該批其余的鋼軌可以驗(yàn)收。
使用雙探頭掃查時(shí),如盲目改變掃查方向,將會(huì)導(dǎo)致()。
采用兩個(gè)斜探頭(一收一發(fā))交叉()的掃查方式叫做交叉掃查。
垂直法探傷時(shí),對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查,局部法掃查一般分為()。
探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法,它主要適用于()的校對(duì)。
60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為()
金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得,他們主要是用來觀察材料的位錯(cuò),放大倍數(shù)一般為()倍。
探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是()