由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

剝離層下核傷可采用軌顎法進行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進行布局和掃查。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導致（）。

鋼軌曲線上股由于接觸疲勞強度不足，形成軌頭表面剝離，一般剝離層深度為（）左右。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進行掃查，局部法掃查一般分為（）。

探傷中為了保證工件的整個被檢部位有足夠的聲束覆蓋，探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑，應(yīng)有探頭寬度（）的重疊。