超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測(cè)面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個(gè)面，甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。

采用兩個(gè)斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法，它主要適用于（）的校對(duì)。

耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤(rùn)性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

使用雙探頭掃查時(shí)，如盲目改變掃查方向，將會(huì)導(dǎo)致（）。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的（）做好記錄。

鋼軌?mèng)~鱗地段探測(cè)中應(yīng)注意（）。

探傷掃查過(guò)程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進(jìn)行布局和掃查。

探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）