在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時(shí)，如果重復(fù)頻率過(guò)高，儀器可能會(huì)產(chǎn)生（）

探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法，它主要適用于（）的校對(duì)。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對(duì)探傷有利。

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對(duì)，用軌顎校對(duì)法校對(duì)時(shí)，需在鋼軌表面校對(duì)的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動(dòng)，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

垂直法探傷時(shí)，對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的（）做好記錄。

用斜探頭三次波對(duì)某一厚度為15mm，焊縫寬度為44mm進(jìn)行探測(cè)，應(yīng)選擇K值為（）的探頭合適。