A、白點(diǎn)
B、核傷
C、裂紋
D、氣孔
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A、灰斑
B、光斑
C、光板
D、未焊合
A、1mm
B、1.5mm
C、2mm
D、2.5mm
A、溫度應(yīng)力
B、動(dòng)彎應(yīng)力
C、殘余應(yīng)力
D、以上都對(duì)
A、操作水平和熟練程度
B、焊劑質(zhì)量
C、氣候條件
D、以上都對(duì)
A、直打
B、直打和側(cè)打
C、側(cè)打
D、偏斜20°
最新試題
采用兩個(gè)斜探頭(一收一發(fā))交叉()的掃查方式叫做交叉掃查。
探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法,它主要適用于()的校對(duì)。
探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是()
根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因,可知其具有從()逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。
當(dāng)脫碳層或顯微組織初檢結(jié)果不合格時(shí),應(yīng)在()兩支鋼軌上取樣復(fù)驗(yàn),如兩個(gè)復(fù)驗(yàn)樣的復(fù)驗(yàn)結(jié)果都符合要求,則該批其余的鋼軌可以驗(yàn)收。
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。
核對(duì)軌頭剝離層下的傷損一般采用()。
剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對(duì),用軌顎校對(duì)法校對(duì)時(shí),需在鋼軌表面校對(duì)的靈敏度的基礎(chǔ)上增加()。
探傷中探頭晶片尺寸增加,相應(yīng)的()對(duì)探傷有利。
鋼軌探傷車要求嚴(yán)格執(zhí)行()的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)定,合理設(shè)置檢測(cè)參數(shù),動(dòng)態(tài)保持良好耦合,確保取得可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)。