A、用直徑較小的探頭進行檢驗 B、在細化晶粒熱處理后進行檢驗 C、將接觸法檢驗改為液浸法檢驗 D、將縱波檢驗改為橫波檢驗
A、頻率較低的探頭和粘度較高的耦合劑 B、頻率較高的探頭和粘度較低的耦合劑 C、頻率較高的探頭和粘度較高的耦合劑 D、頻率較低的探頭和粘度較低的耦合劑
A、縱波 B、橫波 C、縱波與橫波 D、表面波