A、膠片本身質(zhì)量有問(wèn)題
B、膠片被宇宙線曝光
C、暗盒邊緣處漏光
D、膠片受散射線照射
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A、膠片本身質(zhì)量問(wèn)題、膠片儲(chǔ)藏時(shí)間過(guò)久或超過(guò)有效期較長(zhǎng)
B、暗室紅燈過(guò)亮,顯影液濃度過(guò)高、顯影液溫度過(guò)高
C、膠片在透照前已曝光,曝光過(guò)度,受散射線影響
D、以上都是
A、底片暗盒受熱,例如陽(yáng)光或輻射熱
B、暗盒漏光
C、顯影液溫度過(guò)高
D、以上都是
A、條紋
B、粒度
C、點(diǎn)
D、白垢
A、對(duì)比度
B、不清晰度
C、顆粒度
D、以上都是
A、射線照片上可發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
B、射線照片上可識(shí)別的像質(zhì)計(jì)最小細(xì)節(jié)尺寸
C、對(duì)所有像質(zhì)計(jì)統(tǒng)一規(guī)定的像質(zhì)指數(shù)
D、以上都不是
最新試題
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大小()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
散射比的大小與()因素有關(guān)。
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
與直探頭相比,雙晶探頭()
在射線照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
關(guān)于超聲波斜入射,下列說(shuō)法正確的是()
射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹(shù)枝狀花紋的原因是()