A、曝光前
B、曝光后
C、顯影過(guò)程中
D、以上都不對(duì)
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A、定影液酸度不夠
B、定影液堿度不夠
C、定影液變酸
D、顯影不足
A、本底化學(xué)灰霧度
B、其他灰霧度
C、微量密度
D、散射灰霧度
A、幾何形狀不規(guī)則
B、鉛屏蔽
C、膠片質(zhì)量
D、側(cè)面散射線
A、膠片本身質(zhì)量有問(wèn)題
B、膠片被宇宙線曝光
C、暗盒邊緣處漏光
D、膠片受散射線照射
A、膠片本身質(zhì)量問(wèn)題、膠片儲(chǔ)藏時(shí)間過(guò)久或超過(guò)有效期較長(zhǎng)
B、暗室紅燈過(guò)亮,顯影液濃度過(guò)高、顯影液溫度過(guò)高
C、膠片在透照前已曝光,曝光過(guò)度,受散射線影響
D、以上都是
最新試題
散射比的大小與()因素有關(guān)。
感應(yīng)電流法磁化工件主要采用()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
在近場(chǎng)以外的部分,即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為()
與直探頭相比,雙晶探頭()
小口徑管道射線探傷時(shí)常采用()方法透照。
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)()
鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí),會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象()