A.X或γ光量子
B.a粒子
C.電子
D.中子
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.隨千伏值提高而增大
B.隨千伏值提高而減小
C.與千伏值無(wú)關(guān)
D.變化服從朗伯定律
A.越低
B.越高
C.不變
D.不一定
A.隨時(shí)間增大
B.與時(shí)間無(wú)關(guān)
C.隨時(shí)間減小
D.三者都不對(duì)
A.工作電太KV的大??;
B.工作電流mA的大?。?br />
C.工件厚度的大?。?br />
D.陽(yáng)極冷卻速度的大小。
A.防止電極材料氧化;
B.使阻極與陽(yáng)極之間絕緣
C.使電子束不電離氣體而容易通過(guò);
D.以上三者均是。
最新試題
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()
X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。
按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。