單項(xiàng)選擇題環(huán)境溫度不同,氣體分子熱運(yùn)動(dòng)的平均速度就不同,漏率如何?()
A.不變
B.微小變化,可忽略不計(jì)
C.變化
D.可以通過(guò)檢測(cè)人員的經(jīng)驗(yàn)控制
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1.單項(xiàng)選擇題標(biāo)準(zhǔn)漏率是指在環(huán)境溫度23±7℃,入口壓力為100KPa(±5%),出口壓力低于()時(shí)的干燥空氣(露點(diǎn)溫度低于-25℃)通過(guò)的漏率。
A.1KPa
B.1MPa
C.1Pa
D.1mPa
2.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”要求校準(zhǔn)系統(tǒng)靈敏度應(yīng)在試驗(yàn)前和試驗(yàn)后以及試驗(yàn)中間隔不大于()
A.4h進(jìn)行一次;
B.6h進(jìn)行一次;
C.8h進(jìn)行一次;
D.10h進(jìn)行一次。
3.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”要求檢驗(yàn)掃描應(yīng)從探測(cè)系統(tǒng)的:()
A.最下部開(kāi)始;
B.最上部開(kāi)始;
C.中部開(kāi)始;
D.任意部位開(kāi)始。
4.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅳ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測(cè)器探頭技術(shù)”對(duì)“保壓時(shí)間”規(guī)定為檢驗(yàn)以前,試驗(yàn)壓力應(yīng)至少先保持:()
A.15min;
B.20min;
C.25min;
D.30min。
5.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅲ鹵素二極管探測(cè)儀探頭試驗(yàn)”推薦的示蹤氣體為:()
A.六氟化硫(SF6);
B.二氯甲烷(CHCl2);
C.三氯一氟甲烷(CCl3F);
D.二氯二氟甲烷(CCl2F2);
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