探傷工技師對(duì)設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識(shí)應(yīng)了解。

在橫波探傷中，探頭K值對(duì)探傷（）有較大的影響。

金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯(cuò)，放大倍數(shù)一般為（）倍。

探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）

探頭移動(dòng)過程中同時(shí)作（）轉(zhuǎn)動(dòng)，稱為擺動(dòng)掃查。

采用兩個(gè)斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法，它主要適用于（）的校對(duì)。

用斜探頭三次波對(duì)某一厚度為15mm，焊縫寬度為44mm進(jìn)行探測(cè)，應(yīng)選擇K值為（）的探頭合適。

垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動(dòng)，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）