金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數(shù)一般為（）倍。

剝離層下核傷可采用軌顎法進行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

探傷中如遇焊補層下異常回波可采?。ǎ┑确椒ㄟM行校對。

探傷工技師對設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識應(yīng)了解。

垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進行布局和掃查。

探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）

采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

探傷中為了保證工件的整個被檢部位有足夠的聲束覆蓋，探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑，應(yīng)有探頭寬度（）的重疊。

60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）