A.石英
B.玻璃
C.塑料
D.銀導(dǎo)線
E.a和b
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、光纖內(nèi)窺鏡
B、電子內(nèi)窺鏡
C、工業(yè)檢測(cè)閉路電視
D、以上都是
A、對(duì)比度
B、清晰度
C、靈敏度
D、以上都對(duì)
A.0.8%
B.1.6%
C.2.4%
D.3.2%
A.源的強(qiáng)度
B.源的物理尺寸
C.源的種類
D.源的活度
A.橫軸為管電壓,縱軸為時(shí)間,以曝光量為參數(shù)
B.橫軸為管電流,縱軸為管電壓,以曝光時(shí)間為參數(shù)
C.a和b都是
D.a和b都不是
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
儀器水平線性影響()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。