A、最大亮度≥100000cd/m2
B、觀察處的漫射亮度可調(diào)
C、備有遮光板,對不需要觀察或透光量過強(qiáng)的部分給予屏蔽
D、以上都是
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A、J1
B、J2
C、J3
D、以上都不是
A、60—150
B、50—175
C、40—200
D、以上都不是
A、探傷人員根據(jù)制造廠現(xiàn)有探傷人員和設(shè)備技術(shù)水平
B、設(shè)計(jì)人員
C、檢查人員
D、以上都可以
A、仍按20%探傷,但探傷方法選用射線照相,Ⅲ級合格
B、進(jìn)行100%的射線照相,母材厚度超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅲ級合格
C、進(jìn)行100%的射線照相,母材超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅱ級合格
D、以上均可
A、探傷人員
B、制造廠檢驗(yàn)部門根據(jù)實(shí)際情況
C、設(shè)計(jì)人員
D、以上均可
最新試題
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
下列關(guān)于照射場的大小對散射比的影像的說法,錯(cuò)誤的有()。
磁性成像可分為磁場成像和磁性成像,對其描述正確的有()。
組成滲透液的物質(zhì)很多,為保證其使用性能,除了主要的紅色染料外,又添加了()等物質(zhì)。
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有()。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長λ時(shí),會(huì)出現(xiàn)以下()等現(xiàn)象。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對這類鍛件一般采用()進(jìn)行檢測。
磁粉檢測用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
磁化曲線是表征鐵磁性材料磁特性的曲線,用以表示()。
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的(),這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。