A.1/2
B.1/3
C.1/4
D.3/4
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A.尺寸較大
B.尺寸較小
C.線質(zhì)硬
D.半衰期較短
A.中子數(shù)
B.核子數(shù)
C.原子量
D.分子數(shù)
A.電子數(shù)
B.原子數(shù)
C.中子數(shù)
D.原子核質(zhì)量數(shù)
A.27個(gè)質(zhì)子、32個(gè)中子
B.27個(gè)質(zhì)子、33個(gè)中子
C.28個(gè)質(zhì)子、32個(gè)中子
D.28個(gè)質(zhì)子、33個(gè)中子
A.質(zhì)子、電子、中子
B.質(zhì)子、電子、γ射線
C.光子、電子、中子
D.原子、質(zhì)子、電子
最新試題
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
超聲波檢測(cè)夾渣缺陷反射波特征包括()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵睿谡麖埖灼秶霈F(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。