A.小
B.大
C.無變化
D.以上都不對(duì)
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A.物質(zhì)粒子輻射
B.電磁輻射
C.微波輻射
D.電離輻射
A.非電離輻射
B.間接電離輻射
C.直接電離輻射
D.以上都不對(duì)
A.性質(zhì)
B.穿透能力
C.射線源
D.種類
A.穿透能力不同
B.強(qiáng)度不同
C.產(chǎn)生機(jī)理不同
D.A、B和C
A.光電效應(yīng)
B.康普頓效應(yīng)
C.湯姆遜效應(yīng)
D.電子對(duì)生成效應(yīng)
最新試題
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說法正確的有()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。