A.測(cè)定X射線管焦點(diǎn)近似尺寸的方法
B.測(cè)定X射線管中心射線束強(qiáng)度的方法
C.測(cè)定X射線管照射場(chǎng)的方法
D.以上都是
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A.3倍
B.1/2
C.1/3
D.1/4
A.不能穿透工件
B.底片清晰度增加
C.底片清晰度不良
D.以上都不對(duì)
A.固有不清晰度
B.幾何不清晰度
C.本底灰霧度
D.化學(xué)灰霧度
A.射線能量
B.射線強(qiáng)度
C.增感屏粒度
D.A、B和C
A.能量
B.強(qiáng)度
C.指向性
D.工件厚度與焦距的比值
最新試題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng),聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的,所以有()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是()。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是()。