用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。

大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。

阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有（）。

在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí)，鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)（）現(xiàn)象。

超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是（）。

與一次射線相比，散射線的（）。

對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有（）。

磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用（）方法。

超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷，在不同的方向上檢測(cè)，缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài)，判定為（）。

表面波檢測(cè)中，利用表面波檢測(cè)（）效果好。