阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有（）。

用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。

非熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，可見(jiàn)光照度不小于1000lx，并應(yīng)避免（）。

超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是（）。

滲透檢測(cè)時(shí)，滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi)，將受檢部位置于合適的光源（發(fā)光強(qiáng)度足夠）下檢查時(shí)，下列說(shuō)法正確的有（）。

與一次射線相比，散射線的（）。

對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是（）。

單晶體金屬特點(diǎn)有（）。

化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是（）。

滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免（）。